Laboratoř pro korelativní mikroskopii (TACOM)
Laboratoř se zaměřuje na pokročilou charakterizaci vlastností a funkcí materiálů v nanorozměrech pomocí korelativní mikroskopie, která propojuje mikroskop atomárních sil (AFM) a rastrovací elektronovou mikroskopii (SEM) do jednoho funčkního celku umožňujícího současně analyzovat morfologické, mechanické, elektrické a chemické vlastnosti vzorků. Tuto infrastrukturu doplňuje široké spektrum dalších měřících technik, včetně multifunkčního mikrospektrometru (AFM s Ramanovou a fotoluminiscenční spektroskopií), skenovací optické mikroskopie blízkého pole (SNOM), Kelvinovské mikroskopie (KPFM) a skenovací Kelvinovy sondy (SKP) spojené s fotoemisní spektroskopií (APS). Díky tomu je laboratoř schopna poskytovat komplexní, vzájemně provázaná data pro výzkum nanomateriálů, polovodičů i biologických systémů.
