Kombinace obou metod je označována jako correlative probe-electron microscopy (CPEM). Tato metoda propojuje signál z mikroskopů AFM a SEM do výsledného komplexního souboru dat a jeho obrazové vizualizace korelující vybrané morfologické, chemické, mechanické, elektrické a magnetické vlastnosti. Aplikace této metody sahají od přírodních věd po analýzu polovodičů a nanomateriálů. Referenční laboratoř slouží pro demonstraci a testování měření v režimu CPEM.
Mimo tyto mikroskopy se v laboratoři nachází i přístroje pro další korelativní měření, kterými je mutifunkční mikrospektrometr, který obsahuje Ramanův spektrometr, fotoluminiscenční spektrometr, mikroskop atomárních sil, Kelvinovskou mikroskopii a skenovací optický mikroskop blízkého pole (SNOM). Dále využíváme skenovací Kelvinovu sondu (SKP) a ambientní fotoemisní spektroskopii (APS). Referenční laboratoř je otevřena pro všechny zájemce o tato měření, v případě zájmu využijte kontaktní formulář.
