XD17MMS | Mikrovlnné měřicí systémy | Rozsah výuky: | 14+4 | ||
---|---|---|---|---|---|
Přednášející (garant): | Hoffmann K. | Typ předmětu: | S | Zakončení: | Z,ZK |
Zodpovědná katedra: | 317 | Kreditů: | 4 | Semestr: | Z |
Anotace:
Předmět se zabývá problematikou zásad práce v mikrovlnné laboratoři, moderních měřicích metod a přístrojů používaných ve frekvenčním pásmu 100 MHz - 100 GHz. Generátory, frekvenční čítač, spektrální analyzátor. Měření šumu a výkonu. Skalární a vektorové analyzátory. Chyby měření a počítačové korekční metody. Předmět vede k získání profesionálních dovedností v oblasti vysokofrekvenčních a mikrovlnných měření včetně správného vyhodnocení měření, použití korekčních metod, modelů chyb atd.
Osnovy přednášek:
1. | Konektory, kabely, zásady práce s mikrovlnným zařízením, počítačem řízené mikrovlnné měřicí systémy | |
2. | Mikrovlnné generátory | |
3. | Mikrovlnný čítač frekvence | |
4. | Mikrovlnný spektrální analyzátor | |
5. | Měření šumu | |
6. | Měření výkonu | |
7. | Měření S-parametrů a zdroje chyb měření | |
8. | Mikrovlnný skalární analyzátor | |
9. | Analyzátory obvodů s frekvenční konverzí | |
10. | Automatizovaný měřicí systém s HP 8410 | |
11. | Vektorové měřicí systémy se šestibrany | |
12. | Zdroje chyb při širokopásmovém mikrovlnné měření | |
13. | Základní korekční metody | |
14. | Korekční metody pro chybový model s přeslechy |
Osnovy cvičení:
1. | Úvod do práce na mikrovlnných zařízeních, konektory, kabely | |
2. | Mikrovlnný digitální spektrální analyzátor, praktická měření | |
3. | Měření směšovačů, intermodulačních parametrů zesilovačů | |
4. | Skalární analyzátor obvodů HP 8757E, praktická měření | |
5. | Měření kompresních bodů zesilovačů | |
6. | Měření přepínačů, analogových a digitálních atenuátorů | |
7. | Mikrovlnný měřič výkonu. Měření výk. stability generátorů | |
8. | Mikrovlnné generátory HP 8620C, HP 8350B | |
9. | Mikrovlnný frekvenční čítač TR 5212 | |
10. | Vektorový analyzátor obvodů HP 8410. Měření Q | |
11. | Řídicí systém "HP 8410-PC Controlling system" | |
12. | Měření korigovaného koeficientu odrazu v reálném čase | |
13. | Měření rozptylových parametrů mikrovlnných tranzistorů | |
14. | Kontrola zpracování jednotlivých úloh, zápočet |
Literatura Č:
[1] | Bailey A. E.: Microwave Measurement. Peter Peregrinus, London 1985 | |
[2] | Bryant, G.H.: Principles of Microwave Measurements. IEE Electrical Meas. 5, Peter Peregrinus Ltd., London 1997 |
Literatura A:
[1] | Bailey A. E.: Microwave Measurement, Peter Peregrinus, London 1985 | |
[2] | Bryant, G.H.: Principles of Microwave Measurements. IEE Electrical Meas. 5, Peter Peregrinus Ltd., London 1997 |
Požadavky:
Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
|
Stránka vytvořena 25. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů | Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336) |