Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
P34DTM DIAGNOSTIKA A TESTOVÁNÍ V MIKROELEKTRONICE Rozsah výuky:3+0
Přednášející (garant):  Typ předmětu:S Zakončení:ZK
Zodpovědná katedra:334 Kreditů:3 Semestr:L

Anotace:
Fyzikální a elektrické metody měření vlastností materiálů, funkčních struktur a elektronických prvků. Testovací struktury a testovací čipy. Funkční a parametrické testování IO.

Literatura Č:
Dle doporučení přednášejícího

Literatura A:
On the recommendation of the lecturer

Plán Obor Role Dop. semestr
DOKK Elektrotechnika a informatika S Není
DOKP Elektrotechnika a informatika S Není


Stránka vytvořena 14. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)