Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
XD38VBM Videometrie a bezdotyková měření Rozsah výuky:14+4
Přednášející (garant):Fischer J. Typ předmětu:Z Zakončení:Z,ZK
Zodpovědná katedra:338 Kreditů:5 Semestr:Z

Anotace:
Předmět se věnuje problematice optoelektronických senzorů (především CCD) a jejich použití v systémech bezkontaktního měření na principech videometrie. Detailně je prezentována problematika CCD řádkových a plošných senzorů, návrh měřicích kamer a metodika zpracování jejich signálu. Jako důležité součásti videometrického systému jsou prezentovány optická zobrazovací soustava a osvětlovací systém. Dále pak jsou uvedeny základní výpočty potřebné pro jejich volbu.

Osnovy přednášek:
1. Úvod do problematiky videometrie a bezdotykového měření
2. Bezdotykové měření
3. Rozbor metod videometrie a mezí jejich použitelnosti
4. Zdroje záření, osvětlovací zdroje pro měření
5. Návrh fotodiodových snímačů polohy a jejich elektronických obvodů
6. CCD lineární a plošné senzory, vlastnosti a analýza chyb
7. Návrh řídicích obvodů CCD senzorů, televizní norma
8. Analogové obvody pro zpracování signálu z CCD senzorů,
9. Digitalizace videosignálu a jeho přenos do mikropočítače
10. Volba a výpočet vlastností použité optické soustavy
11. Zvyšování rozlišovací schopnosti při měření rozměrů s CCD
12. Použití CCD-TV kamery pro měření ve videometrii
13. Triangulační metody určování polohy a tvaru těles
14. Návrh automatických výrobních inspekčních systémů

Osnovy cvičení:
1. Úvod to problematiky
2. Měření polohy kruhovou diferenciální diodou
3. Měření vlastností PSD senzoru
4. Měření citlivosti optoelektronických senzorů
5. Měření videosignálu CCD -TV monochromatické a barevné kamery pro CCTV podle normy CCIR, PAL
6. Měření velikosti plochy CCD kamerou a digitalizátorem obrazu s PC
7. Měření CCD řádkového senzoru
8. Kontrola rozměrů a tvaru kovových výlisků CCD kamerou
9. CCD řádková kamera, přesné měření rozměrů
10. Měření kruhovitosti plošných objektů
11. Zjišťování geometrických chyb systému s CCD kamerou
12. Základní metody číslicového zpracování obrazu pro měření geometrických veličin
13. Automatická výrobní inspekce kompaktním systémem MDTR, parametrizace pro kontrolu rozměrů
14. Vyhodnocení výsledků měření.

Literatura Č:
1. Vobecký, J., Záhlava, V.: Elektronika. Grada, Praha 2001
2. Singh, J.: Optoelectronics - an Introduction to Materials and Devices. McGraw-Hill, 1996
3. www.dalsa.com
4. www.kodak.com

Literatura A:
1. Pollock, C.: Fundamentals of Optoelectronics. IRWIN, Chicago 1995
2. Singh, J.: Optoelectronics - an Introduction to Materials and Devices. McGraw-Hill, 1996
3. Hecht, E.: Optics. Addison-Wesley Longman, Inc., 1998
4. www.dalsa.com
5. www.kodak.com

Požadavky:

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
Plán Obor Role Dop. semestr
MKM03-D Kybernetika a měření Z 3


Stránka vytvořena 25. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)